Početna stranicaVisoka učilištaKorisničke stranice

Sadržaj predmeta

Elektronička mjerenja i komponente
Kratica: INE01O5Opterećenje: 30 + 15 + 45 + 0
Nositelji: prof. dr. sc. Stanko Tonković
prof. dr. sc. Mario Cifrek
Osnovna elementi i svojstva elektroničkih mjernih sustava. Otvoreni i zatvoreni mjerni sustavi. Statičke i dinamičke karakteristike. Asimetrični, simetrični i plivajući načini veze. Tehnička i mjeriteljska svojstva i karakteristike mjernih uređaja. Osciloskopi: konstrukcija i načini uporabe. Naponske i strujne mjerne sonde. Mjerni izvori. Izvori vrlo stabilnih frekvencija. Mjerenje spektralne čistoće i stabilnosti frekvencije signala. Svojstva i načini mjerenja imitancije pasivnih dvopola. Načini priključivanja dvopola kod mjerenja. Mjerenje parametara linearnih četveropola. Digitalni mjerni uređaji. Osnovni principi i mogući uzroci mjernih pogrešaka. Mjerenje snage na višim frekvencijama. Mjerenje šuma.

Literatura:
1. J.P.Bentley: Principles of Measurement Systems, 3.ed., Longman, London, 1995.
2. R.A. Witte: Electronic Test Instruments,: Theory and Application, HP Professional Books, Prentice Hall, NY., 1993.
3. C.F. Coombs, Jr.: Electronic Instruments Handbook, Mc Graw-Hill, NY, 1995.
Srce - Sveučilišni računski centar Sveučilišta u Zagrebu